蘋果在9月推出的最新一代智能手機 iPhone 6 及 iPhone 6 Plus 雖然大受用戶歡迎，不過同時有不少問題出現，當中 iPhone 6 Plus 除了屈曲事件外，近來更有消息顯示 iPhone 6 Plus 會頻繁死機，原因竟然是因為 iPhone 6 Plus 使用的TLC NAND控制IC？
韓國最新的報導顯示，蘋果為了節省成本來提升 iPhone 的容量，用了TLC NAND儲存器控制，雖然容量更多，但是讀取/寫入的速度比較慢，更會導致 iPhone 6 Plus 死機的可能性，業內人士指出，死機很可能是iPhone內部NAND Flash控制晶片品質瑕疵所導致。
韓國最新的報導顯示，蘋果為了節省成本來提升 iPhone 的容量，用了TLC NAND儲存器控制，雖然容量更多，但是讀取/寫入的速度比較慢，更會導致 iPhone 6 Plus 死機的可能性，業內人士指出，死機很可能是iPhone內部NAND Flash控制晶片品質瑕疵所導致。
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